产品简介
产品特点
主要参数表
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名称 |
类别 |
参数 |
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探针台本体 |
适用wafer规格 |
0-12″,厚度0mm~2.0mm |
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XYZ运动分辨率 |
0.05um |
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XYZ重定位精度 |
≤±0.5um |
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XYZ定位精度 |
≤±2um |
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XY移动速率 |
≤50mm/s |
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Z移动速率 |
≤10mm/s |
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反馈系统 |
50nm光栅反馈 |
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θZ行程 |
±10° |
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θZ运动分辨率 |
0.00018° |
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θZ重复精度 |
0.002° |
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θZ定位精度 |
0.005° |
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θZ速率 |
≤10°/s |
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温控(选配) |
温度范围 |
-60-300℃ |
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温控精度 |
温度分辨率 : 0.01°C |
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最低控温速率 |
±0.1°C /小时 |
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制冷方式 |
压缩机制冷 |
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针座平台 |
材质 |
镀镍,与探针座之间具备更强吸附力 |
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显示系统 |
显微镜成像系统 |
体式显微镜/视频显微镜/金相显微镜+CCD成像系统 |
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倍率范围 |
15X~100X/60X~420X/20X~4000X |
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显微镜行程 |
具备高刚性龙门架结构,XYZ行程分别为50㎜*50㎜*100㎜,精度1um |
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CCD 成像系统 |
1200 万/2000 万像素 |
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其它 |
选件 |
屏蔽箱/防震桌/射频/同轴/三轴加热卡盘/探针卡/光电流显微镜/大功率 |
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效率 |
100分钟/个产品(12寸晶圆) |
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设备尺寸 |
1300x1100x1700mm(长x宽x高) |
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设备重量 |
600kg |
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