探针类测试
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半自动探针台

专为半导体、光电及集成电路研发与制造打造。支持 3 寸至 12寸晶圆,实现≤15 秒极速自动对位与高精度电参数/功能测试。集成智能触控、动态 MAP 显示与五段式 Z 轴防护,显著提升测试效率与良率,有效降低研发与制造成本。

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产品介绍

产品简介

专为半导体、光电及集成电路研发与制造打造。支持 3 寸至 12寸晶圆,实现≤15 秒极速自动对位与高精度电参数/功能测试。集成
智能触控、动态 MAP 显示与五段式 Z 轴防护,显著提升测试效率与良率,有效降低研发与制造成本。



产品特点

1. 全尺寸晶圆兼容:无缝适配 3 寸、4 寸、5 寸、6 寸、8 寸、12寸晶圆,满足广泛研发与生产需求;
2. ≤15 秒极速自动对位:智能扫描对位系统 实现超快精准定位,大幅缩短测试准备时间,提升效率 (UPH);
3. 智能触控+动态 MAP:直观触屏界面 简化操作;实时动态 MAP图 清晰展示测试进度、结果分布与失效点,一目了然;
4. 高精度三轴运动与补偿:X/Y/Z 精密运动平台 结合软件对 垂直度、平面度 的主动补偿,确保测试定位精准与过程稳定可靠;
5. 五段式 Z 轴智能防护:独创分段控制 (基本/接触/缓冲/过冲/折回高度)+探边功能,有效防止探针划伤芯片及接触不良,保护昂贵
晶圆与探针;
6. 多功能智能测试:支持圆形/矩形/范围重测/探边测试/范围打点/回收测试/脱机打点等多种模式,灵活应对复杂测试场景;
7. 降本增效利器:自动化测试流程减少人工依赖,提升测试效率与良率,显著缩短研发周期,降低制造成本;




主要参数表

名称

类别

参数

探针台本体

适用wafer规格

0-12″,厚度0mm~2.0mm

XYZ运动分辨率

0.05um

XYZ重定位精度

≤±0.5um

XYZ定位精度

≤±2um

XY移动速率

≤50mm/s

Z移动速率

≤10mm/s

反馈系统

50nm光栅反馈

θZ行程

±10°

θZ运动分辨率

0.00018°

θZ重复精度

0.002°

θZ定位精度

0.005°

θZ速率

≤10°/s

温控(选配)

温度范围

-60-300℃

温控精度

温度分辨率 : 0.01°C

最低控温速率

±0.1°C /小时

制冷方式

压缩机制冷

针座平台

材质

镀镍,与探针座之间具备更强吸附力

显示系统

显微镜成像系统

体式显微镜/视频显微镜/金相显微镜+CCD成像系统

倍率范围

15X~100X/60X~420X/20X~4000X

显微镜行程

具备高刚性龙门架结构,XYZ行程分别为50㎜*50㎜*100㎜,精度1um

CCD 成像系统

1200 万/2000 万像素

其它

选件

屏蔽箱/防震桌/射频/同轴/三轴加热卡盘/探针卡/光电流显微镜/大功率

效率

100分钟/个产品(12寸晶圆)

设备尺寸

1300x1100x1700mm(长x宽x高)

设备重量

600kg